科创中国

封闭壳体X射线屏蔽效能测量方法

原文链接：万方

• 作者：

  罗剑辉,周海生,马戈,黑东炜,魏福利,徐曦

• 摘要：

  针对X射线辐照环境中抗辐射加固技术研究的需求,建立了一种适用于电子系统封闭外壳的X射线屏蔽效能测量方法.以X射线机的轫致辐射输出为基础,通过滤波和多个连续谱的组合,实现了接近考核能谱的辐照X射线输出;利用Li F热释光探测器的优势,研究了X射线能量响应标定和屏蔽效能测量的应用方法.重点开展了20–100 ke V硬X射线辐照下封闭腔体屏蔽效能测量的实验研究,测量结果显示,除照射方向上的穿透X射线外,散射X射线对腔体内部剂量场具有显著的贡献.通过实验方法的建立和测量结果的分析,能为X射线抗辐射加固的结构设计和有效性评估提供实验参考.

• 关键词：

  X射线 能谱构造 封闭壳体 屏蔽效能 热释光探测器

• 作者单位：

  西北核技术研究所%强脉冲辐射模拟与效应研究国家重点实验室%中国工程物理研究院电子工程研究所

• 基金项目：

  总装装备预研重点基金项目(No.914A11050910ZW501)资助

• 来源期刊：

  核技术

• 年，卷(期)：

  2014012