科创中国

1MeV电子加速器辐照剂量的测量

原文链接：万方

• 作者：

  杜纪富,姜灿,王升,陈思,李月生

• 摘要：

  目前吸收剂量的测量方法有多种,对低能电子束吸收剂量进行测量时,由于受到电子束穿透深度、热效应、动态加工等因素的影响,可用方法很少,通常用显色薄膜剂量片进行测量.本文采用FWT-60-00薄膜显色剂量片测量1MeV低能电子束进行辐照加工时的吸收剂量,研究了吸收剂量与束流强度、辐照时间、束下装置运行速度的关系,测量了材料中吸收剂量的深度分布,并对加速器能量进行了校正.结果表明:在相同的辐照时间和电子能量下,吸收剂量随束流的增加线性增长;速度较高时,吸收剂量与小车速度也呈现出良好的线性关系.

• 关键词：

  薄膜显色剂量片 辐照剂量 束下装置 电子加速器

• 作者单位：

  湖北科技学院非动力核技术湖北省协同创新中心

• 基金项目：

  湖北科技学院核技术专项基金资助项目(ZX1103,ZX1022,ZX1102,PY1103,BK1103)%湖北省教育厅科学技术研究资助项目(Q20122808)%国家科技部973计划资助项目(2009CB939705)%国家自然科学基金资助项目(20873096,20921062)%教育部-民委共建湖北省催化材料重点实验室资助项目(CHCL09007)

• 来源期刊：

  测试技术学报

• 年，卷(期)：

  2014003