多孔氢氧化钴薄膜的制备及其超级电容器性能

原文链接:万方

  • 作者:

    张永起,夏新辉,康婧,涂江平

  • 摘要:

    采用水热合成法在泡沫镍基体上制备了多孔氢氧化钴薄膜.薄膜由厚度约为20 nm的氢氧化钴片层组成.通过循环伏安法、恒电流充放电测试法等对多孔氢氧化钴薄膜电极在2 mol/LKOH电解液中进行电化学性能的测试.结果表明,多孔氢氧化钴薄膜具有良好的赝电容性能.在室温条件下,当电流密度为2 A/g时,多孔氢氧化钴薄膜比容量达到935 F/g,且其大电流放电性能优良,电流密度为40 A/g时其比容量达到589 F/g.多孔薄膜还表现出良好的循环特性,在电流密度2 A/g循环1500周期后,容量保持率为82.6%.

  • 关键词:

    超级电容器 氢氧化钴薄膜 电化学性能 水热合成

  • 作者单位:

    浙江大学材料科学与工程学系%硅材料国家重点实验室

  • 基金项目:

    中国博士后科学基金(20100481401)资助

  • DOI:

    10.1007/s11434-012-5291-z

  • 来源期刊:

    科学通报

  • 年,卷(期):

    2012027

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