-
同步辐射小角散射法和中子衍射法研究中子辐照A1-B合金结构
为了研究He在材料中的行为,借助10B的(n,α)核反应,通过反应堆热中子对Al-B合金进行辐照,引入He原子密度达6.2*1025 m-3.采用同步辐射X射线小角散射法(Synchrotron small angle X-ray scattering,SAXS)原位测试了不同温度下合金中He的状态变化,并结合透射电镜(Transmission electron microscope,TEM)对试样进行了观察;采用X射线衍射和中子衍射法分析了合金晶格参数的变化.SAXS分析表明,随着温度升高试样内部的颗粒和孔洞消失,He泡数量不断增多、尺寸增大.700 oC下He泡的半径大约增大到10 nm,与室温时颗粒和孔洞相当.衍射分析表明,B原子引入使得Al晶格常数增大,但不存在可见的第二相,中子辐照使得生成的Li和He原子进入Al晶格,进一步加大了晶格常数.辐照后的样品加热使得He从晶格间隙位置扩散到晶界形成He泡,从而缓解了对晶格的挤压,导致了晶格常数的回复减小,第一性原理计算得到的间隙原子B、Li、He引起的晶格肿胀解释了这一结果.黄朝强,闫冠云,谢雷,孙良卫,陈波,刘耀光,盛六四,刘晓,吴忠华 - 核技术文章来源： 万方数据 -
CSNS反角白光中子实验终端本底及中子准直系统模拟计算
散裂中子源可产生白光中子,具有中子注量率高、热功率小、可脉冲化等优点,其应用十分广泛.其中一个重要的应用是核数据测量.目前,中国缺少白光中子源,因此一直没有开展基于白光中子源的核数据测量工作.目前在建的中国散裂中子源(China Spallation Neutron Source,CSNS)的反角中子束线,在距散裂靶80 m处的中子强度约为9.25*106n·cm-2·s-1,时间分辨率为0.3%-0.9%,能够较好地用于核数据测量工作.本文介绍了该白光中子束线及实验终端的概况,并重点介绍该实验终端本底计算结果、中子准直系统和束斑参数.通过计算结果得出,CSNS反角白光中子源物理终端具有较低的实验本底和较好的中子束斑,可以开展较高精度的核数据测量工作.任杰,阮锡超,唐洪庆,葛智刚,黄翰雄,敬罕涛,唐靖宇,黄蔚玲 - 核技术文章来源： 万方数据 -
质子-中子相互作用与壳模型配对近似
质子-中子相互作用和质子-中子配对是原子核结构中有趣的问题.本文指出,经验上由结合能提取的质子-中子相互作用和壳模型计算得到的T=0质子-中子相互作用的计算结果很接近;计算中奇奇核和偶偶核的结合能应该附加一个额外项,这个额外项由质子-中子相互作用给出.自旋平行的质子-中子配对(角动量为9,同位旋为0)在96Cd的01+、21+、41+、61+、121+、141+和161+态以及92Pd原子核的01+和21+态中重要,而传统的SD配对近似对于01+和21+态的描述更合适.傅冠健,赵玉民 - 核技术文章来源： 万方数据 -
高分辨X射线衍射元件的研制
X射线波带片是纳米X射线成像系统的核心元件之一,为了研制高分辨率X射线波带片,对纳米结构的电子束光刻和高精度电镀进行了实验研究。首先,通过对电子束曝光工艺版图进行优化设计,平衡了邻近效应对纳米结构的影响,有效地控制了光刻胶的扭曲和坍塌。实验结果表明,采用校正的工艺版图,用线曝光方式在800 pC/cm2剂量下可以研制出厚度为270 nm、最外环宽度为50 nm的高分辨率X射线波带片光刻胶结构。然后,在配制的柠檬酸金钾电镀液中,优化了电镀工艺参数。采用金含量为10%的柠檬酸金钾电镀液,各电镀参数pH值为4.2,电镀温度为50℃,电流密度为0.2 A/dm2电镀出高分辨率X射线波带片。熊瑛,刘刚,田扬超 - 传感技术学报文章来源： 万方数据 -
时间关联符合法对铀质量和富集度的测量
核材料尤其是高浓铀材料一直是人们重点关注的对象,越来越多的方法和技术手段用来探测其质量和富集度的信息,而重屏蔽体内高浓铀材料质量和富集度的测量是一项技术性的难题.为此,利用14MeV中子和14MeV中子慢化后得到的连续中子能谱来探测铅容器内铀材料质量和富集度的信息,结果如下:在低富集度的范围内,相同富集度的铀样品质量之间存在良好的线性关系;相同质量的铀样品富集度之间也存在良好的线性关系,这为将来探测重屏蔽体内铀材料质量和富集度的信息提供了很好的方法基础.梁庆雷,李井怀,刘国荣,李安利 - 核技术文章来源： 万方数据 -
表面垂直取向对HPDLC光栅特性的影响
为了提高聚合物/液晶(HPDLC)光栅的衍射效率并改善光栅的表面形貌,研究了表面垂直取向处理对HPDLC光栅的影响。首先,研究了表面垂直处理对液晶分子的取向作用,发现垂直取向层对液晶的锚定作用随着盒厚的增加而逐渐减弱,取向层的作用范围大概在3μm ~5μm之间;其次,对相分离程度进行了实验表征,结果表明,随着液晶盒厚度的增加,相分离开始的时间越来越快,并且分离程度也越来越彻底。最后,讨论了表面垂直取向对 HPDLC光栅衍射效率的影响,随着盒厚的增加,相分离出来的液晶微滴形成连续的区域,光栅的衍射效率逐渐升高,当盒厚增加到一定程度,其衍射效率和无取向处理的光栅接近。当盒厚过大时,垂直取向处理对HPDLC光栅散射损失并没有太大的改善,只有当盒厚适中(12μm)时,光栅的衍射效率最高,散射损失最小。李文萃,舒新建,杨燚,黄文彬 - 应用光学文章来源： 万方数据 -
中子照相系统整体空间分辨率计算与分析
本文综合考虑几何不锐度和探测系统固有不锐度的影响,把准直比、样品与转换屏间距离、转换屏和CCD(CMOS)相机分辨率等关键参数引入到系统脉冲响应函数,推导出更准确和全面的中子照相系统整体空间分辨率计算公式,探讨了公式中各参数与分辨的定量关系和影响规律.利用该公式对中国先进研究堆实时中子成像探测系统在不同准直比条件下的整体空间分辨率进行了计算与分析,讨论了如何优化调整各影响因素以提高中子照相装置的整体测试性能.为中子照相装置的优化设计以及确定特定样品的测试方案,提供了重要的理论依据.贺林峰,韩松柏,王雨,魏国海,武梅梅,王洪立,刘蕴韬,陈东风 - 核技术文章来源： 万方数据 -
252Cf(D2O)中子源实验室中子散射的模拟及验证
为了准确刻度中子剂量当量仪的性能参数以及验证中子剂量当量仪设计的准确性,在252Cf(D2O)源实验室进行实验校准之前,先采用MCNP5分别模拟分析实验室中空气、墙壁以及石蜡桶对探头中子计数的影响.模拟实验表明,在理想条件下,随着源与探头距离的增大,中子计数率越来越小;空气对中子计数的影响呈先增加后减小再增加的趋势,中子散射率不超过10%,且距离越近,空气散射的中子对探头计数的影响越小;当探头与源距离260cm左右时,石蜡桶对探头计数的影响最小,达到1%;墙壁对中子计数的影响随着探头与源距离增大而逐渐增大,当探头与源距离为360cm时,墙壁散射的中子是源中子计数的2倍;当源与探头距离为175cm时,空气、墙壁以及石蜡桶对源中子的散射最小,测量数据最精确.并通过实验与模拟数据对比表明,源与探头距离在125–300cm之间,计数率误差不超过30%,符合中子剂量测量的技术要求,从而验证了此中子剂量当量仪设计的准确性.田时海,王和义,陈旭,袁永刚,张林 - 核技术文章来源： 万方数据 -
角度计量中三光栅光学系统应用分析
在目前的角度计量工作中普遍采用光电轴角编码器作为测角器件,而光栅系统由于具有分辨率高、稳定性好、出错率低、环境适应性强等特点而得到了计量界的认可.结合计量工作误差处理严谨、不确定度来源分析透彻的要求,在分析了三光栅光学系统原理的基础上,提出了针对其正弦输出信号的自适应滤波方法.王胜磊,刘福,雷正伟,张永伟 - 现代电子技术文章来源： 万方数据 -
基于 SOI 工艺的扭转式微机械扫描光栅设计及制作
为实现微型光谱仪在工程领域的广泛应用,研究了其核心器件---扭转式微机械扫描光栅的结构与制作方法。利用SOI工艺,设计一种无需启动电极的静电梳齿驱动结构,可以使扭转式微机械扫描光栅具有低频驱动、制作工艺简单、扫描范围广等优点。通过设计的制作工艺方法,研制出了能够初步满足性能要求的扭转式微机械扫描光栅样件。测试结果表明:该微扫描光栅在驱动电压为25 V时最大转角可达到±4.8°,对应的光学扫描角为19.2°。靳倩 - 应用光学文章来源： 万方数据
科创中国
