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  • 可控硅dlT/dt测试线路的设计与测量

    dlT/dt是衡量可控硅可靠性的一个重要参数,过高的dlT/dt可能会导致可控硅损坏或失效,故设计一个能准确测量此参数的低成苓线路显得尤为关键.本文设计了一个简洁的测量可控硅dlT/dt的测试电路,并介绍了它的测试原理与测试方法,且测量了市场上的BTA208-600B,得出了测试结果,与该产品说明书的值一致、,可应用于研发可控硅的企事业单位和研究所测试可控硅.
    郭素萍,居大鹏 - 电子产品世界
    文章来源: 万方数据
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